ABNT NBR IEC 60749-27 NBRIEC60749-27 Dispositivos semicondutores -

N O R M A S T É C N I C A S

NBRIEC60749-27 de 02/2011

Dispositivos semicondutores - Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 27: Descarga eletrostática (ESD) - Modelo máquina (HM)

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	Título
	Dispositivos semicondutores - Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 27: Descarga eletrostática (ESD) - Modelo máquina (HM)

	Título em inglês
	Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine Model (MM)

Objetivo

Estabelece um procedimento-padrão para o ensaio e a classificação de dispositivos semicondutores, de acordo com suas suscetibilidades a dano ou degradação pela exposição a uma descarga eletrostática (ESD) definida como modelo de máquina (MM). Este procedimento pode ser utilizado como método alternativo ao ensaio de ESD modelo do corpo humano. O objetivo é fornecer ensaios de ESD confiáveis e repetíveis, de modo que classificações exatas possam ser realizadas.

Histórico

02/2011

Publicada edição

	Número de Páginas

	9 páginas

	Comitê

	ELETRICIDADE

	Assuntos

	• ENSAIO • DISPOSITIVO SEMICONDUTOR

Complementar(es)

NBRIEC60749-26	Dispositivos semicondutores - Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 26: Descarga eletrostática (ESD) - Modelo do corpo humano (HBM)


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