ABNT NBR IEC 60749-1 NBRIEC60749-1 Dispositivos semicondutores

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NBRIEC60749-1 de 02/2010

Dispositivos semicondutores – Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 1: Generalidades

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	Título
	Dispositivos semicondutores – Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 1: Generalidades

	Título em inglês
	Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General

	Objetivo
	Esta parte da NBRIEC60749 é aplicável aos dispositivos semicondutores (componentes discretos e circuitos integrados) e define disposições comuns a todas as outras partes da série.

Histórico

02/2022

Publicada confirmação

11/2016

Publicada confirmação

02/2010

Publicada edição

	Número de Páginas

	3 páginas

	Comitê

	ELETRICIDADE

	Assuntos

	• DISPOSITIVO • SEMICONDUTOR • ENSAIO CLIMÁTICO • MÉTODO DE ENSAIO • MECÂNICA • GENERALIDADES • ENSAIO MECÂNICO

Complementar(es)


IEC 60050 (todas as partes)

IEC 60747 (todas as partes)

IEC 60748 (todas as partes)

Baseada(s)


IEC 60749-1

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Dispositivos semicondutores – Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 1: Generalidades

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