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NBRIEC60749-23 de 07/2012


Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaio mecânico e climático - Parte 23: Ensaio de vida em alta temperatura



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NBRIEC60749-23 de 07/2012
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Título
 Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaio mecânico e climático - Parte 23: Ensaio de vida em alta temperatura
 
 
Título em inglês
 Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
  
 
Objetivo
 

Este ensaio é utilizado para determinar os efeitos da polarização e da temperatura ao longo do tempo nos dispositivos de estado sólido. Simula a operação em um dispositivo de forma acelerada e destinase principalmente a qualificação e monitoração da confiabilidade dos dispositivos. Uma forma de ensaio de vida em alta temperatura usando período curto de tempo, popularmente conhecido como burn-in, pode ser usado para detectar falhas relacionadas à mortalidade infantil. Detalhes do uso e aplicação de burn-in não fazem parte do escopo desta Norma.

 
Histórico
 
02/2022
Publicada confirmação
 
11/2016
Publicada confirmação
 
07/2012
Publicada nova edição
 
01/2011
Publicada edição
 
Número de Páginas
5 páginas
Comitê
ELETRICIDADE
Assuntos
 
• DISPOSITIVO SEMICONDUTOR
• ENSAIO BÁSICO CLIMÁTICO E MECÂNICO
 
Complementar(es)
 
IEC 60747-1 Ed. 2.0 b
IEC 60747-1 Ed. 2.1 b
IEC 60747-10 Ed. 2.0 b
IEC 60747-11 Ed. 1.0 b
IEC 60747-14-1 Ed. 2.0 b
IEC 60747-14-3 Ed. 2.0 b
IEC 60747-14-4 Ed. 1.0 b
IEC 60747-14-5 Ed. 1.0 b
IEC 60747-16-3 Ed. 1.0 b
IEC 60747-16-3 Ed. 1.1 b
IEC 60747-16-4 Ed. 1.0 b
IEC 60747-16-4 Ed. 1.1 b
IEC 60747-2 Ed. 2.0 b
IEC 60747-2-2 Ed. 1.0 b
IEC 60747-3 Ed. 1.0 b
IEC 60747-4 Ed. 2.0 b
IEC 60747-5-1 Ed. 1.0 b
IEC 60747-5-1 Ed. 1.2 b
IEC 60747-5-2 Ed. 1.0 b
IEC 60747-5-2 Ed. 1.1 b
IEC 60747-5-3 Ed. 1.0 b
IEC 60747-5-3 Ed. 1.1 b
IEC 60747-5-4 Ed. 1.0 b
IEC 60747-5-5 Ed. 1.0 b
IEC 60747-6 Ed. 2.0 b
IEC 60747-6-3 Ed. 1.0 b
IEC 60747-7 Ed. 2.0 b
IEC 60747-8 Ed. 2.0 b
IEC 60747-8-2 Ed. 1.0 b
IEC 60747-8-3 Ed. 1.0 b
IEC 60747-8-4 Ed. 1.0 b
IEC 60747-9 Ed. 2.0 b
IEC 60749-34 Ed. 2.0 b
Baseada(s)
 
IEC 60749-23 Ed. 1.1 b
 
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