ABNT NBR IEC 60749-3 NBRIEC60749-3 Dispositivos semicondutores

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NBRIEC60749-3 de 01/2011

Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 3: Inspeção visual externa

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	Título
	Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 3: Inspeção visual externa

	Título em inglês
	Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

Objetivo

A finalidade desta parte da NBRIEC60749 é verificar se os materiais, projeto, construção, marcações e acabamento dos dispositivos semicondutores estão de acordo com as especificações. A inspeção visual externa é um ensaio não destrutivo e é aplicável a todos os tipos de encapsulamentos. Este ensaio é útil para a qualificação, monitoração do processo ou aceitação de lotes, ou de ambos.

Histórico

11/2016

Publicada confirmação

01/2011

Publicada edição

	Número de Páginas

	2 páginas

	Comitê

	ELETRICIDADE

	Assuntos

	• SEMICONDUTOR • MÉTODO DE ENSAIO • DISPOSITIVO SEMICONDUTOR

Baseada(s)


IEC 60749-3 Ed. 1.0 b

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