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NBRIEC60749-29 de 03/2011


Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 29: Ensaio de latch-up



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NBRIEC60749-29 de 03/2011
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Título
 Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 29: Ensaio de latch-up
 
 
Título em inglês
 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
  
 
Objetivo
 

Esta parte da NBRIEC60749 abrange o Teste I (ensaio de corrente) e o ensaio latch-up de sobretensão de circuitos integrados.

 
Histórico
 
02/2022
Publicada confirmação
 
11/2016
Publicada confirmação
 
03/2011
Publicada edição
 
Número de Páginas
19 páginas
Comitê
ELETRICIDADE
Assuntos
 
• ENSAIO
• DISPOSITIVO SEMICONDUTOR
 
Baseada(s)
 
IEC 60749-29 Ed. 1.0 b
 
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